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Mini LED 芯片膜厚測(cè)試系統(tǒng)
介紹: 測(cè)量目標(biāo)膜的絕對(duì)反射率,實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)測(cè)試! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚電子型號(hào): optm -

VR/AR/MR光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
介紹: 針對(duì)虛擬顯示光度色度測(cè)量,具有高穩(wěn)定性、高準(zhǔn)確性、高性價(jià)比的可用于計(jì)量校準(zhǔn)的高精度測(cè)試儀器品牌: 美國(guó) Photo Research型號(hào): -


















































































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