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橢圓偏振光測(cè)量?jī)xFE5000
介紹: 通過自動(dòng)多角度橢圓偏振光測(cè)量?jī)x實(shí)現(xiàn)高速的薄膜膜厚測(cè)量和高精度的光學(xué)常數(shù)解析品牌: 日本 大塚電子型號(hào): FE5000 -

膜厚測(cè)量?jī)xFE-300
介紹: 小型?低價(jià)格!簡(jiǎn)單操作”非接觸”膜厚量測(cè)儀FE-300!品牌: 日本 大塚電子型號(hào): FE-300 -

OPTM 半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀
介紹: 測(cè)量目標(biāo)膜的絕對(duì)反射率,實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)測(cè)試! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚電子型號(hào): optm -

激光粒徑儀
介紹: ELSZ-2000激光粒徑儀提供快速、準(zhǔn)確、便捷的粒徑大小測(cè)試,界連電位測(cè)試以及分子量的測(cè)試。 該分析儀可在0.6納米至10微米粒度范圍內(nèi)進(jìn)行粒徑測(cè)量,-200到200mV間進(jìn)行界達(dá)電位測(cè)量。品牌: 日本 大塚電子型號(hào): ELSZ-2000






























































































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