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SPM300系列半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀
介紹： 基于拉曼光譜半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀，具有非接觸、無損檢測(cè)、特異 性高的優(yōu)點(diǎn)。可以對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行微區(qū)分析，空間分辨率＜ 800nm （典型值），也可以對(duì)樣品進(jìn)行掃描從而對(duì)整個(gè)面進(jìn)行均勻性分析。 設(shè)備具有智能化的軟件，可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合計(jì)算，直接將載流子濃度、 晶化率、應(yīng)力大小或者分布等結(jié)果直觀的展現(xiàn)給用戶。品牌： Zolix型號(hào)： SPM300系列 -
激光粒徑儀
介紹： ELSZ-2000激光粒徑儀提供快速、準(zhǔn)確、便捷的粒徑大小測(cè)試，界連電位測(cè)試以及分子量的測(cè)試。 該分析儀可在0.6納米至10微米粒度范圍內(nèi)進(jìn)行粒徑測(cè)量，-200到200mV間進(jìn)行界達(dá)電位測(cè)量。品牌： 日本 大塚電子型號(hào)： ELSZ-2000
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