手持式X射線熒光儀器X射線源靶材陽極材料的選擇
XRF靶材陽極材料的選擇
XRF的基本原理是:高能X射線照射樣品,樣品中的原子可能吸收一個(gè)X射線光子,使原子內(nèi)層(靠近原子核的殼層)的一個(gè)電子被擊出,從而電離該原子。隨后,外層電子躍遷至內(nèi)層空位,并以特征X射線輻射的形式釋放多余能量。該X射線的能量取決于參與躍遷的殼層能級(jí),因此“特征”地反映了樣品材料的組成。
對(duì)于XRF使用的X射線源,一個(gè)關(guān)鍵細(xì)節(jié)是:X射線源產(chǎn)生的X射線能量必須高于待測(cè)元素的吸收邊,才能電離該元素的原子。每種元素都有不同的吸收邊,正如它們有不同的特征X射線譜線一樣。為了有效檢測(cè)不同元素,需要從多個(gè)方面對(duì)X射線源進(jìn)行“調(diào)諧”。
調(diào)整X射線源能譜形狀的基本方法有三種:
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設(shè)置X射線管的高壓;
-
在X射線源與樣品之間放置X射線濾光片;
-
選擇X射線管的陽極材料。
本報(bào)告將重點(diǎn)討論陽極材料的選擇。關(guān)于設(shè)置高壓或選擇濾光片的更多信息,請(qǐng)?jiān)L問 www.moxtek.com,并點(diǎn)擊頁面右下角的“咨詢我們的專家”選項(xiàng)。
X射線陽極的選擇
與高壓或?yàn)V光片不同,X射線管的陽極是固定的——由于陽極材料位于X射線管的真空內(nèi)部,因此無法更換。對(duì)于單一XRF應(yīng)用儀器以及用于多種XRF應(yīng)用的儀器而言,正確選擇陽極材料至關(guān)重要,因?yàn)樗诤艽蟪潭壬蠜Q定了儀器的應(yīng)用能力。因此,陽極材料的選擇強(qiáng)烈依賴于具體的XRF應(yīng)用。
對(duì)于手持式XRF(HHXRF),X射線管陽極類型主要有兩大類:“輕元素”陽極:專門用于激發(fā)吸收邊低于約3 keV的輕元素;“通用”陽極:用于激發(fā)高于約3 keV的元素。下面將分別討論這兩類陽極。
用于輕元素XRF檢測(cè)的陽極
在手持式XRF中,輕元素定義為周期表中從鎂(Mg,Z=12)到氯(Cl,Z=17)的元素。輕元素XRF檢測(cè)是一項(xiàng)技術(shù)要求非常高的應(yīng)用,對(duì)手持式XRF尤其如此,它決定了手持式XRF中X射線源以及X射線探測(cè)器的大部分設(shè)計(jì)限制。
用于手持式XRF輕元素檢測(cè)的X射線管陽極通常由銠(Rh) 或銀(Ag) 制成。這兩種元素非常適合激發(fā)樣品中的輕元素,因?yàn)樗鼈兌季哂薪咏? keV的L系譜線:銀的L系譜線在2.9–3.4 keV之間;銠的L系譜線在2.7–3.0 keV之間。這些L系譜線能夠強(qiáng)烈激發(fā)剛好低于3 keV的熒光譜線,例如硫(S)、磷(P)、硅(Si)、鋁(Al)和鎂(Mg)——正是輕元素XRF所關(guān)注的具體元素。專為輕元素分析設(shè)計(jì)的手持式XRF X射線源,在X射線管上使用非常薄的鈹窗(約125 μm或更薄)。采用更薄窗口的目的是盡量減少X射線窗口本身對(duì)Rh或Ag L系譜線的吸收。在這些輕元素應(yīng)用中,通常不使用X射線濾光片。空氣常常成為一個(gè)不受歡迎的“濾光片”:在大約1厘米的空氣中,能量在2.5–3 keV之間的X射線約有25%被吸收(作為參考,3 keV的X射線波長約為0.4 nm)。
通常,用于輕元素檢測(cè)的X射線源也用于其他XRF應(yīng)用,這些應(yīng)用要求X射線源在40–50 kV的高壓下運(yùn)行。這帶來了一個(gè)設(shè)計(jì)上的制約:一個(gè)在10–20 kV下優(yōu)化的X射線源,并不適合40–50 kV下的運(yùn)行。對(duì)于手持式XRF,幾乎所有的X射線管都采用透射式陽極設(shè)計(jì),即靶材(厚度約1 μm)直接沉積在X射線窗口上。陽極厚度的最佳設(shè)置是:足夠厚以阻擋X射線管的電子束,同時(shí)又足夠薄以避免對(duì)產(chǎn)生的X射線造成額外的過濾。在陽極厚度設(shè)計(jì)中,這個(gè)最佳值針對(duì)單一高壓是特定的(見圖1)。

圖1說明:該圖展示了1 μm厚的鎢(W)靶材箔片與10 kV、20 kV和30 kV電子束的相互作用。該厚度在20 kV時(shí)性能最優(yōu)。低于20 kV時(shí),箔片的額外厚度會(huì)起到X射線濾光片的作用;高于20 kV時(shí),電子會(huì)穿透鎢靶進(jìn)入鈹窗,無法產(chǎn)生所需的X射線。
對(duì)于輕元素檢測(cè),讓X射線源產(chǎn)生的大量L系譜線照射到樣品上以激發(fā)輕元素是至關(guān)重要的。然而,同一個(gè)X射線源也需要用于更高電壓下的XRF應(yīng)用。這導(dǎo)致在設(shè)計(jì)上需要在兩種應(yīng)用之間進(jìn)行權(quán)衡。
銠或銀陽極層有幾種靶材厚度選項(xiàng),適用于20–40 kV之間的運(yùn)行。這一厚度范圍根據(jù)兩種應(yīng)用需求(輕元素XRF和其他XRF應(yīng)用)進(jìn)行劃分。X射線管制造商將擁有一系列針對(duì)手持式XRF在此范圍內(nèi)優(yōu)化的專有厚度,由儀器制造商選擇確切的靶材厚度(見表I和表II)。圖2展示了三種不同銠陽極厚度在不同電壓設(shè)置下的X射線通量優(yōu)勢(shì)與劣勢(shì)。由于輕元素XRF檢測(cè)難度大得多,任何專為輕元素檢測(cè)設(shè)計(jì)的手持式XRF儀器幾乎都會(huì)使用更薄的銠靶材——RH3。RH3靶材厚度增加了低于20 kV時(shí)的L系X射線信號(hào),這正是該厚度最常被選中的原因。雖然30–50 kV設(shè)置下的X射線通量下降是不希望的,但使用更高電壓的應(yīng)用即使X射線強(qiáng)度大幅降低,仍然可以相當(dāng)好地工作。
表1:Moxtek生產(chǎn)的三種銠(Rh)陽極厚度及其性能對(duì)比
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靶材ID |
靶材材料 |
優(yōu)化電壓 (kV) |
譜系說明 |
@10 kV |
@20 kV |
@30 kV |
@40 kV |
@50 kV |
|
RH3 |
Rh |
20.0 |
e-陽極模擬 |
0.95 |
1.00 |
0.87 |
0.62 |
0.38 |
|
X射線L系譜線 |
0.58 |
1.00 |
0.81 |
0.53 |
0.6 |
|||
|
RH2 |
Rh |
25.0 |
e-陽極模擬 |
0.90 |
0.99 |
0.99 |
0.90 |
0.7 |
|
X射線L系譜線 |
0.45 |
0.84 |
1.00 |
0.82 |
0.6 |
|||
|
RH7 |
Rh |
30.0 |
e-陽極模擬 |
0.87 |
0.99 |
1.00 |
0.96 |
0.82 |
|
X射線L系譜線 |
0.43 |
0.77 |
1.00 |
0.85 |
0.63 |
表1注釋:本表給出了Moxtek生產(chǎn)的三種銠陽極厚度(分別針對(duì)20 kV(RH3)、25 kV(RH2)和30 kV(RH7)優(yōu)化)的計(jì)算和實(shí)測(cè)X射線通量輸出。對(duì)于每種陽極厚度,“e-陽極模擬”行顯示計(jì)算出的陽極X射線L系譜線發(fā)射強(qiáng)度;“X射線L系譜線”行顯示實(shí)驗(yàn)測(cè)得的L系X射線強(qiáng)度(已歸一化到X射線管功率)。電子模型趨勢(shì)與實(shí)驗(yàn)測(cè)得的X射線強(qiáng)度吻合良好。兩者之間的差異是由于模型未考慮所有因素,如陽極自吸收和X射線窗口吸收。
關(guān)于銠陽極的所有論述同樣適用于銀陽極。兩種靶材類型之間的選擇通常取決于具體儀器制造商的決策。銠靶的一個(gè)缺點(diǎn)是:其2.70 keV的譜線非常接近氯(Cl)的K系譜線(2.62 keV)。Rh的幾條L系能量并不能激發(fā)Cl,而且峰位接近會(huì)導(dǎo)致與Cl的峰重疊。在氯檢測(cè)這種特定情況下,銀陽極是更好的選擇。

圖2說明(左圖):
左圖顯示了Rh L系譜線的通量強(qiáng)度隨X射線源電壓的變化,已歸一化到1瓦的X射線管功率。對(duì)于輕元素檢測(cè),首選靶材是RH3(較薄的陽極),它在5–20 keV的設(shè)置下能使L系譜線強(qiáng)度提高約20%。RH3陽極厚度的缺點(diǎn)是在30–50 kV的高壓端,總X射線強(qiáng)度會(huì)損失約40%,但大多數(shù)手持式XRF制造商認(rèn)為這是可以接受的。
表2:Moxtek生產(chǎn)的兩種銀(Ag)陽極厚度及其性能對(duì)比
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靶材ID |
靶材材料 |
優(yōu)化電壓 (kV) |
譜系說明 |
@10 kV |
@20 kV |
@30 kV |
@40 kV |
@50 kV |
|
AG2 |
Ag |
20.0 |
e-陽極模擬 |
0.94 |
1.00 |
0.91 |
0.70 |
0.45 |
|
X射線L系譜線 |
0.56 |
1.00 |
0.82 |
0.53 |
0.36 |
|||
|
AG1 |
Ag |
40.0 |
e-陽極模擬 |
0.83 |
0.98 |
0.97 |
1.00 |
0.93 |
|
X射線L系譜線 |
0.36 |
0.70 |
0.95 |
1.00 |
0.83 |
表2注釋:本表給出了Moxtek生產(chǎn)的兩種銀陽極厚度(分別針對(duì)20 kV(AG2)和40 kV(AG1)優(yōu)化)的計(jì)算和實(shí)測(cè)X射線通量輸出。對(duì)于每種陽極厚度,“e-陽極模擬”行顯示計(jì)算出的陽極X射線L系譜線發(fā)射強(qiáng)度;“X射線L系譜線”行顯示實(shí)驗(yàn)測(cè)得的L系X射線強(qiáng)度(已歸一化到X射線管功率)。電子模型趨勢(shì)與實(shí)驗(yàn)測(cè)得的X射線強(qiáng)度吻合良好。兩者之間的差異是由于模型未考慮所有因素,如陽極自吸收和X射線窗口吸收。
用于其他XRF應(yīng)用的陽極
手持式XRF的通用陽極最常由鎢(W) 制成,適用于許多XRF應(yīng)用,但輕元素XRF是一個(gè)明顯的例外。鎢陽極每單位電流產(chǎn)生更多的通量,其原因是軔致輻射的產(chǎn)生與靶材的原子序數(shù)(Z)成正比(《光學(xué)手冊(cè)》第三版第五卷,2009年,第54章)。此外,鎢是一種非常堅(jiān)固的材料,是難熔金屬,熔點(diǎn)高,這使其通常比其他材料更具優(yōu)勢(shì)。采用鎢陽極的X射線源,其鈹窗厚度為250 μm或更大。鎢陽極幾乎從不用于輕元素XRF,因此更薄的窗口沒有價(jià)值。鎢陽極的厚度針對(duì)X射線源通常產(chǎn)生的最高千伏電壓進(jìn)行優(yōu)化。例如,用于廢金屬分揀的手持式XRF儀器,其X射線源固定在35 kV。透射式陽極X射線源上的鎢陽極厚度也將相應(yīng)地針對(duì)35 kV進(jìn)行優(yōu)化(見圖3)。表III列出了典型的鎢陽極厚度以及該陽極所優(yōu)化的千伏電壓。

圖3說明:
該圖顯示了針對(duì)不同高壓優(yōu)化的幾種鎢陽極類型的X射線強(qiáng)度,已歸一化到1瓦的X射線管功率。這是通過銅濾光片后的通量,通常這種X射線源的使用方式正是如此。
表3:Moxtek生產(chǎn)的三種鎢(W)陽極厚度及一種反射式陽極的性能對(duì)比
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靶材ID |
靶材材料 |
優(yōu)化電壓(kV) |
譜系說明 |
@10kV |
@20kV |
@30kV |
@40kV |
@50kV |
@60kV |
@70kV |
|
W01 |
W |
25.0 |
e-陽極模擬 |
0.88 |
0.97 |
0.96 |
0.82 |
0.58 |
0.39 |
0.26 |
|
X射線 (3.5-10keV) |
0.25 |
0.75 |
1.00 |
0.92 |
0.72 |
— |
— |
|||
|
W07 |
W |
40.0 |
e-陽極模擬 |
0.77 |
0.87 |
0.98 |
0.99 |
0.95 |
0.78 |
0.58 |
|
X射線 (3.5–10keV) |
0.15 |
0.54 |
0.84 |
1.00 |
0.96 |
— |
— |
|||
|
W06 |
W |
60.0 |
e-陽極模擬 |
0.37 |
0.69 |
0.90 |
0.96 |
0.98 |
1.00 |
0.94 |
|
X射線 (3.5–10 keV) |
0.01 |
0.32 |
0.52 |
0.68 |
0.81 |
0.94 |
1.00 |
|||
|
W-R |
W |
— |
e-陽極模擬 |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
|
X射線 (3.5–10keV) |
0.37 |
0.79 |
0.95 |
1.00 |
0.83 |
— |
— |
表3注釋:本表給出了Moxtek生產(chǎn)的三種鎢陽極厚度(分別針對(duì)25 kV(W01)、40 kV(W07)和60 kV(W06)優(yōu)化)的計(jì)算和實(shí)測(cè)X射線通量輸出。W-R是一種厚反射式陽極,類似于更傳統(tǒng)的X射線管設(shè)計(jì)。對(duì)于每種陽極厚度,“e-陽極模擬”行顯示計(jì)算出的陽極X射線L系譜線發(fā)射強(qiáng)度;“X射線 (3.5–10 keV)”行顯示實(shí)驗(yàn)測(cè)得的在3.5–10 keV能量范圍內(nèi)的X射線強(qiáng)度(已歸一化到X射線管功率)。電子模型趨勢(shì)與實(shí)驗(yàn)測(cè)得的X射線強(qiáng)度吻合良好。兩者之間的差異是由于模型未考慮所有因素,如陽極自吸收和X射線窗口吸收。
使用鎢陽極的XRF應(yīng)用通常與X射線管外部的濾光片配合使用。兩種值得注意的濾光片是:鋁濾光片(厚度約0.5 mm):用于廢金屬分揀;銅濾光片:用于有害元素檢測(cè)。


















































































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