集成式 NEXAFS 系統(tǒng)
簡 述：
proXAS 是市場上首個(gè)可在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)實(shí)現(xiàn) NEXAFS 測量的系統(tǒng)，使元素分析的指紋識別能夠在本地完成，獲得快速且準(zhǔn)確的結(jié)果。
該系統(tǒng)結(jié)合了高可靠性的激光驅(qū)動(dòng) XUV 光源與定制化光譜儀，其分辨本領(lǐng)高達(dá) 1900。能量范圍覆蓋 200–1200 eV，可對多種元素的 K 邊進(jìn)行測量，例如 C、N、O、Ca、K、Ti。
品 牌：
產(chǎn)品型號：
- proXAS
德國 hp spectroscopy 集成式 NEXAFS 系統(tǒng)
特點(diǎn)
· 首款集成式臺式 NEXAFS 光譜解決方案
· 無需申請并等待同步輻射機(jī)時(shí)
· 適用于地質(zhì)、生物及材料研究的化學(xué)態(tài)分析
· 快速多色（多能）采集
同步輻射級別的譜圖
· 能量范圍 200 – 1200 eV
· 分辨本領(lǐng)高達(dá) 1900
· 極高的表面靈敏度
· 可獲取分子軌道、氧化態(tài)及配位數(shù)等信息
· 配備光譜分析軟件套件
應(yīng)用
· 有機(jī)材料分析，例如脂質(zhì)膜、腐殖酸、聚合物薄膜等，尤其適用于碳 K 吸收邊區(qū)域
· 對 C、N、O、Ca、K、Ti等元素進(jìn)行表面敏感的化學(xué)分析
聚酰亞胺薄膜（厚度 t = 200 nm）在碳 K 吸收邊處的 NEXAFS 光譜，由臺式系統(tǒng)測量并對 60 個(gè)脈沖進(jìn)行平均。插圖：用于對比的同步輻射測量 NEXAFS 光譜。（數(shù)據(jù)由 IFNANO 的 K. Mann 博士提供）
采用高可靠性的激光等離子體產(chǎn)生的 XUV 光源。能量范圍200–1200eV，重復(fù)頻率25Hz。
產(chǎn)品指標(biāo)
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光源 |
無碎屑激光等離子體 XUV 光源 |
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能量范圍 |
200-1200eV / 1-6nm |
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重復(fù)頻率 |
25Hz |
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光源穩(wěn)定性 |
±1.5% |
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光譜儀 |
像差校正的平場光譜儀 |
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分辨能力 |
1900 |
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樣品室 |
轉(zhuǎn)塔式樣品位，支持多樣品安裝 |
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尺寸 |
1.5m x 1.0m |
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軟件 |
集成化系統(tǒng)控制 多種光譜校準(zhǔn)與數(shù)據(jù)分析功能 |
13810233784
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